全光束测定系统

LEDから照明まで幅広い光源の全光束を測定します。
 ・積分球＋分光器で全光束から色測定まで幅広く対応
 ・光源を加熱/冷却コントロールし温度特性評価が可能
 ・直流/交流電源をシステム一括制御。面倒な操作不要
 ・積分半球では測定精度も高く、サンプルセットも容易
 ・ワットクラスのハイパワーレーザー光源の測定も対応

長年の実績から全光束測定のどんなシーンにも対応し、要求に合わせた測定システムをサポートします。

製品情報

• 最大2400mmの直管光学の全光束測定に対応可能
• IESNAのLM-79とLM-80に準拠した測定システム
• 新型検出器の採用により、広ダイナミックレンジ測定が可能
• 測定部（積分球または積分半球）のサイズは、用途に応じて
  φ250mmからφ3000mmまでラインアップ
• L-I-V測定、パルス点等測定、サンプル温調測定に対応可能
• パルス幅変調（ＰＷＭ）調光に対応

これ以外のサイズについては別途お問い合わせください。

• 全光束〔JIS C 7801:2009 / JIS C 8152:2007〕
• 分光全放射束（スペクトル）
• 等色標準偏差（SDCM）
• 色度座標（u, v）〔CIE 1960UCS〕
• 色度座標（x, y）〔JIS Z 8724:1997〕
• 色度座標（u', v'）〔CIE 1976UCS〕
• 相関色温度とDuv〔JIS Z 8725:1999〕
• 主波長（Dominant）と刺激純度（Purity）〔JIS Z 8701:1999〕
• 演色性評価数（Ra, R1～R15）〔JIS Z 8726:1990〕