多检体奈米粒径测量系统
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- 多检体奈米粒径测量系统
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产品详细介绍
動的光散乱法(DLS法)による粒子径測定（粒子径0.6nm～10μm）装置です。
品質管理のニーズを更に追求した機能を各種搭載。
希薄～濃厚系まで広濃度範囲で多検体測定対応した新光学系、ラボで必須な軽量・小型化、標準1分の高速測定を実現しています。
また、非浸漬型でコンタミの影響を受けず、オートサンプラーなしで“5検体連続測定”を標準装備した新製品です。
製品情報
特 長
- 1台で手軽に5検体連続測定
- 希薄から濃厚系対応
- 標準測定時間1分の高速測定
- かんたん測定機能搭載 (1クリックで測定開始できる)
- 非浸漬型のセルブロック内蔵で分注なしのコンタミレス
- 温度グラジエント機能搭載
測定範囲（理論値）
- 粒子径 0.6nm～10μm
- 濃度範囲 0.00001～40％
- 温度範囲 0～90℃*
仕 様
| 型式 | 多検体ナノ粒子径測定システム |
| 測定原理 | 動的光散乱法 |
| 光源 | 高出力半導体レーザー *1 |
| 検出器 | 高感度APD |
| 連続測定 | 5検体 |
| 測定範囲 | 0.6nm ～ 10μm |
| 対応濃度 | 0.00001 ～ 40% *2 |
| 温度 | 0 ～ 90℃ （温度グラジエント機能あり） *3 |
| 規格 | ISO 22412：2017 準拠 JIS Z 8828：2013 準拠 JIS Z 8826：2005 準拠 |
| サイズ | W240 X D480 X H375 mm |
| 重量 | 約18 kg |
| ソフトウェア | 平均粒子径解析 （キュムラント法解析） |
| 粒度分布解析 （Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法） |
|
| 粒度分布重ね書き | |
| 逆相関関数・残差プロット | |
| 粒子径モニター | |
| 粒子径表示範囲 （0.1 ～ 106 nm） | |
| 分子量計算機能 |
*1 本装置はレーザーに関する安全基準 （JIS C6802）のクラス1に区分される製品です。
*2 Latex120nm：0.00001 ～ 10％、タウロコール酸：～40%
*3 標準ガラスセルでのバッチ測定の場合。
ディスポセルや連続測定時は 15 ～ 40℃ （温度グラジエント非対応）