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首页>产品中心>光分析装置

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光分析装置
  • 体积小重量轻的非破坏性检测X射线发生器,RF-200SPS 200kV 型号:RF-200SPS 200kV

    名称:体积小重量轻的非破坏性检测X射线发生器

  • 200kV微电脑定向工业X射线装置,RF-200EGM2 200 kV 型号:RF-200EGM2 200 kV

    名称:200kV微电脑定向工业X射线装置

  • 250kV微电脑定向工业X射线装置,RF-250EGM2 250 kV 型号:RF-250EGM2 250 kV

    名称:250kV微电脑定向工业X射线装置

  • 300kV微电脑定向工业X射线装置,RF-300EGM2 300 kV 型号:RF-300EGM2 300 kV

    名称:300kV微电脑定向工业X射线装置

  • 热重分析仪,TDL 型号:TDL

    名称:热重分析仪

  • 热重分析仪,TMA HUM 型号:TMA HUM

    名称:热重分析仪

  • 热重分析仪,TMA 型号:TMA

    名称:热重分析仪

  • 差示热重分析仪,TG-DTA/HUM 型号:TG-DTA/HUM

    名称:差示热重分析仪

  • 差示热重分析仪,TG-DTA 型号:TG-DTA

    名称:差示热重分析仪

  • 差示扫描量热仪,DSC 型号:DSC

    名称:差示扫描量热仪

  • 能量色散XRF(EDXRF)光谱仪,NEX LS 型号:NEX LS

    名称:能量色散XRF(EDXRF)光谱仪

  • EDXRF过程分析仪,NEX OL 型号:NEX OL

    名称:EDXRF过程分析仪

  • XRT/XRA 处理硫计量器,NEX XT 型号:NEX XT

    名称:XRT/XRA 处理硫计量器

  • 手持式激光诱导击穿(LIBS)光谱仪,KT-100S 型号:KT-100S

    名称:手持式激光诱导击穿(LIBS)光谱仪

  • 自动原位晶体仪,XtalCheck 型号:XtalCheck

    名称:自动原位晶体仪

  • 原位X射线晶体学系统,PX Scanner 型号:PX Scanner

    名称:原位X射线晶体学系统

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