EDXRF过程分析仪

先进的第三代能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，理学NEX OL代表液流和固定位置web或卷材应用的过程元素分析的下一个进化。 从重工业到食品级过程测量的跨度设计，NEX OL可配置用于安全和非安全级别区域。

分析范围从铝（¹³Al）到铀（⁹²U）

为了实现优越的分析性能和可靠性，EDXRF测定磁头组件来源于已创建的理学NEX QC+高分辨率台式仪。通过这个已被证明的技术，理学NEX OL实现了快速、非破坏、多元素分析 – 从ppm级别到高重量百分比（wt%）浓度 – 用于从铝（¹³Al）到铀（⁹²U）的元素范围。结合一个50kV的X射线管和SDD探测器 – 结合一个标准优化的管滤光片套件 – 理学NEX OL解决多种过程控制应用。

唯一的无工具的流动池设计

对于液流的元素分析，一个分析头结合一个唯一的无工具的流动池，包含X射线窗口。 X射线窗口含有液流但流到X射线，它通常为一个塑料膜。

涂层厚度与成分

除了分析液流，理学NEX OL通过测定多元素成分和/或涂层厚度的能力还用于web和卷材应用。通常安装头到滚筒上的一个固定位置，这样该头到表面的距离恒定。