弯曲的成像板面探测器

RAPID II

RAPID II可以说是材料分析历史中最通用的X射线面探测器。在十多年的不断改进期间，RAPID II的成功证明了成像板技术适用于测量衍射图谱和广泛材料的散射。

多功能性

结合极大的有效面积成像板，使其对广泛的放射源具有高灵敏度并且对各种X射线源和光学系统具有灵活性。成像板探测器的性质说明微弱测量可以在强测量中轻松进行。

成本低

结合一个可行的、经过实践考验的设计和无需校正的特点，RAPID II是一个保持在实验现场最短停机时间的探测器。

结果证明

通过运行RAPID II的实验仅受到研究者想象力的局限。示例包括粉末衍射的相ID、微衍射描绘低至10微米、漫散射、纤维衍射、小分子结构分析、应力和织构检测等。

 

Features

• 弯曲成像板提供一个210°孔径
• 由于没有暗电流噪声实现长时间曝光
• 双光电倍增管设计实现大动态范围
• 高灵敏度低噪声
• 为所有潜在X射线靶材提供成像板探测器灵敏度
• 从密封式光管到旋转样机发生器的多个X射线源选项
• 无需探测器校正
• 低维护，提供所有组件的现场服务
• 从粉末到单晶的巨大实验多功能性