膜厚测量系统

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  • 膜厚测量系统
  • KAGAKU
  • FE-3700/5700
  • 日本
  • 现货
产品详细介绍

製品情報

特 長

さまざまなガラス基板上の各種薄膜の膜厚や光学定数を、高速かつ高精度に測定できます。次世代サイズを含む大型ガラス基板に対応するほか、LCD、TFT、や有機ELにも対応します。

 

用 途
  • LCD
    ITO/Glass、PI/OC/Glass、CF/Glass、Resist/Glass
  • TFT
    SiN/a-Si/Glass
  • 有機EL
    有機EL/ITO/Glass
  • PDP
    誘電体層/Glass