X射线回折装置

正極点図の測定で、入射Ｘ線に対して試料にはαとβとの２つの軸による回転を与えます。 
{hkl}を反射法で測定するとき、試料表面を入射Ｘ線に対してｈｋｌまたはその高次の回折角度θだけ傾けて設置、Ｘ線検出器を角度２θの位置に設定すると、試料面に平行な{hkl}面、すなわちその極点が正極点図の中心点に相当する結晶面の存在量を測定できることになります。
この位置をα＝９０°として試料をα軸により角度αＲだけ回転し、試料面内の基準方向（ＲＤ）を規定 して、試料面法線まわりにβ軸回転を行えば、極点図上で中心から角度αＲの位置にある小円上の {hkl}面の存在量を測定できます。 
一周のβ回転を終わったら、さらにα回転を進めてβ回転を繰り返し測定します。 
α回転が進むと試料面に対するＸ線の入射角が浅くなりなります。 
このように測定されたＸ線回折強度は、バックグラウンドを差し引き正味の回折線強度を求めると同時 に、同一の光学系で測定した完全無方向性の標準試料(Random Sample)の回折強度との比較で

　　　　Phkk(α,β)＝I hkk(α,β)sample/ I hkk(α)random により規格化して、正極点図を作成します。